HGST He8 SMARTtesting扩展自测轮询时间可变性

我最近收到了一批6个全新的HGST He8硬盘,当他们进行最初的长时间自检时,我注意到扩展的自检程序推荐的轮询时间performance出非常大的变化性。

for f in /dev/sd[uz]; do sudo smartctl -i $f | grep "Model"; done Device Model: HGST HUH728080ALN600 Device Model: HGST HUH728080ALN600 Device Model: HGST HUH728080ALN600 Device Model: HGST HUH728080ALN600 Device Model: HGST HUH728080ALN600 Device Model: HGST HUH728080ALN600 for f in /dev/sd[uz]; do sudo smartctl -a $f | grep -A1 "Extended self-test"; done Extended self-test routine recommended polling time: (1367) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: (1217) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: (1242) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: (1133) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: (1167) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: (1083) minutes. 

有没有人看到他们的驱动器这样的变化或有什么解释,什么会导致这么大的范围?

硬盘是非常复杂的机械设备。 虽然它们被广告为7200 RPM的磁盘,但每个磁盘都有自己特定的转速(例如:7170或7220 RPM)。 音圈执行机构和其他伺服机构也是如此。

总之,来自同一型号/批次的两个磁盘非常相似,但不完全相同

对于这些logging,我观察到2个希捷4TB NAS磁盘上SMART长时间自检轮询时间的差异。