当驱动器接近满负荷时，我想测量固态驱动器的性能下降。 特别是，我想基准随机和顺序读/写。
这在IOmeter中可能吗？ 我应该如何configurationIOmeter来运行这样的testing？
Anandtech在SSD，基准testing以及它们的优点方面都有一篇非常棒的文章。 他们使用IOmeter运行他们的基准testing，并给出了一些提示，他们遇到了什么样的问题。
http://www.anandtech.com/storage/showdoc.aspx?i=3531
第12页介绍了他们如何模拟一个被大量使用的“使用过的”驱动器。 他们这样做是为了衡量在这个驱动器的使用寿命中会有多less性能下降。
准备做大量的testing。 我花了很多时间试图了解一般优秀的FusionIO设备的写入次数和写入性能之间的关系。 起初供应商对理解情况的帮助不大。
请记住，“空闲”块的定义可能会有所不同。 例如，如果您曾经写信给它，存储就不能认为它是免费的。 也许如果你以后用全0或全1的方法写出来，可以把它标记为空白块，尽pipe我在实践中没有看到这个。 通过创build仅占整个存储空间一小部分的逻辑卷，我发现了令人震惊的性能问题。 然后，创build一个包含剩余存储的逻辑卷，大量写入半小时，然后删除逻辑卷。 对SSD来说，这些块当然不是免费的。 但是通过这个testing，我永远毁掉了写作的performance。
通过将设备格式化为额外的“保留”块，性能影响的现实变得无关紧要。 FusionIO设备支持快速写入，因为它们擦除后台中的保留块，并将其用于新写入。 （你被覆盖的块被标记为空闲，并且随后被擦除）。