假设一块MLC固态硬盘已经持续了很长时间，第一块电池已经达到了最后的擦除周期并拒绝擦除。
那之后会发生什么？ 控制器是否检测到坏块，并移动到下一个块，并试图擦除？ 随着时间的推移，驱动器的总容量是否会缓慢下降？
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当然，我们可以忘记磨损平衡。 是的，它延长了驱动器的寿命，但我不是在说这个。 最后一个单元将会达到最后的擦除周期。
NAND闪存芯片有一些内置的机制来检测写入和擦除操作失败，并在出现故障时提醒控制器。 在这种情况下，控制器可以再次尝试，或者将该块视为错误，并将其映射为平均algorithm。 NAND设备中的每个页面在主数据区旁还有一个备用区 ，用于元数据，如ECC和其他forms的故障检测和容错。 控制器可以使用备用区域来决定自己的容错scheme。 汉明码是一种常见的scheme，虽然有几种，包括简单的奇偶校验位和里德 – 所罗门码 。 如果读取操作中的内容不匹配，则控制器可以随心所欲地进行操作。 理想情况下，它也会将这些模块映射到磨损均衡algorithm之外，在“太多”模块失效之前，您将一点一点地丢失容量，其中“太多”取决于控制器内的algorithm和硬件结构大小。 许多首要的控制器devise只是向操作系统声明一个错误。
请注意，这不是MLC特有的问题。 尽pipeMLC单元可能更容易出现读取错误，但由于错误的余量必然较小，所以SLC单元以大致相同的机制出现故障，并且可由控制器以相同的方式处理。
就像使用硬盘一样，这取决于操作系统的实现。 控制器只会报告写入（擦除实际上是一个写操作）失败，并由操作系统内核的devide驱动程序来决定要做什么。 从目前为止我所看到的，微软和Linux实现只是简单的将错误代码返回给调用应用程序 – 所以它会产生I / O错误。
简而言之：你只是在某个时候得到一个“破碎”的设备。
固态硬盘使用一种称为“损耗均衡”的function，驱动器保持关于扇区使用情况的统计信息，并且在某个时刻或者当它检测到问题时，它会将该扇区移动到保留状态，就像常规硬盘一样。